如何选择最适合自己的液位检测方式？

光学反射测量利用光在介质上的折射来检测液体的液位。折射是光线从一种材料传递到另一种材料时改变方向的现象。这是因为不同材料的光速不同。光学反射传感器由一个光发射器和一个测量反射光的光电探测器组成。当存在液体时，光被折射，因此只有一部分光被反射，从而导致电信号的相应变化。

这是一种需要与液体接触的侵入式检测方法，对于基础型的及高温高压下的液位检测来说，这种方法便捷有效。

但这种方式的缺点也很明显：它们的检测结果通常不是很精确，如果产品沾染污垢可能就无法正常工作。另外，光电传感器还会存在反射面以及介质波动等问题。

这些液位传感器发射超声波，根据反射波的时间和强度，可以测量传感器和液体之间的距离。这是一种精确、非接触式的方法，不受被测材料的影响。

然而，通过超声波进行液位测量是复杂且昂贵的，并且无法实现在有泡沫的液体和复杂的几何形状的容器中的稳定测量，另外在真空罐中也无法使用这种检测方式。

由于飞行时间的测量原理，容器的顶部需要留出一定的空间，因此容器不可以被装满。另外，超声波系统可能会在有波动的介质上出现交叉反射情况，影响检测结果。

这种方法特别适用于采矿、化工和食品工业中的液体以及粉末状和细粒度固体。振动传感器有一个叉形探针，以其固有频率振动。频率的变化表示电平的变化。这种方法既便宜又紧凑，但需要与材料接触。

由于每个传感器只能测量单个点的开关量，例如某个极限水平或40%、60%和80%，不能实现实时的液位监控。此外，音叉的测量精度通常也不会太高。

另一个简单的高液位或低液位指示的传感器是浮球，当容器或储罐中的液位上升或下降时，浮球会上升或下降。

这种机械测量不需要任何功率，而且价格低廉，但相比其他液位方式，它们的体积可能相对较大，可靠性稳定性较低，并且可能会变脏并卡在容器中。

作为液位测量专家，CAPTRON使用电容式和ToF激光技术进行液位测量。如右图所示，电容电平测量的工作原理是基于电容器的电容变化。在这个例子中，探棒和容器壁形成两个电极，而介质充当电介质。电平的变化导致电容的变化。空的容器具有低电容，而充满的容器具有高电容。

电容式探棒的选择标准

选择标准取决于许多因素——金属容器使用单杆探棒，而塑料容器使用双杆探棒或带金属管套的单杆探棒。环境条件，如100°C以上的温度和所需的防护等级，如IP67，决定了是否需要外部放大器或需要什么类型的仪器连接。

根据客户应用进行特殊设计

在每个行业中，对产品和材料的要求都非常不同。这就是CAPTRON提供一系列可组合和定制的探测系统的原因。根据客户的应用和类型，该公司的系统可用于配置满足特定客户要求的探头，探棒长度精确到毫米。定制设计是一个重要的考虑因素，尤其是对于不同尺寸的容器。CAPTRON满足这些要求，提供所需长度的探棒，甚至双探棒，并配有测量多种不同液体和粉末的传感器。由于产品采用高品质材质，耐污耐酸碱性能极好。CAPTRON可根据客户规格开发特殊设计，特别是杆的长度可实现厘米级的定制，并在两周内交付。

CAPTRON的液位传感器非常可靠且准确。有些系统已经稳定运行了20多年。CAPTRON还负责根据容器几何形状、测量材料（DK值）和其他影响因素（如温度或搅拌器的运动等）对探棒进行精确校准。可提供外壳内集成电子器件的紧凑型探针或带有外部放大器的探针。外部放大器通过屏蔽、耐温的聚四氟乙烯电缆连接到棒状探头。由于探棒和放大器的空间分离，可适用于高达230°C的温度场景。